汽车级金属贴片晶振,3225mm四脚石英晶振,HSX321S晶振

加高电子（H.ELE。）是频率元件的专业制造商，目前所提供之石英晶体（水晶），晶体振荡器（振荡器）之生产及销售规模居全台领先地位。成立于1976年年，借由与日本DAISHINKU（KDS）株式会社的合作，引进日本精密制程，产品设计技术及讲究的品质管理工法，进而累积扎实的研发能力。我们拥有广泛的产品规格及客制化服务，应用范围涵盖日常消费产品（如：网路与通讯产品，智慧家庭和个人电脑），高阶工业产品和车用电子。
在服务上，我们致力于建立深厚的顾客信赖关系及满意度的提升。为达到全面服务客户的需求，制造无源晶振质量与价格优势，我们在台湾，大陆及泰国皆拥有生产工厂，并且提供多元化的网路服务，配置多国语言能力之销售团队，使我们能够与国际客户群进行有效的沟通，取得客户的支持及认可，国内外客户皆可透过各地的销售办事处和经销商，取得完整即时的需求回应及服务。 JLX-1

加高晶振,贴片晶振,HSX321S晶振,进口晶振,小型贴片石英晶振,外观尺寸具有薄型表面贴片型石英晶体谐振器,特别适用于有小型化要求的市场领域,比如智能手机,无线蓝牙,平板电脑等电子数码产品.晶振本身超小型,薄型,重量轻,晶体具有优良的耐环境特性,如耐热性,耐冲击性,在办公自动化,家电相关电器领域及Bluetooth,Wireless LAN等短距离无线通信领域可发挥优良的电气特性,满足无铅焊接的回流温度曲线要求.
石英晶振高精度晶片的抛光技术：贴片晶振是目前晶片研磨技术中表面处理技术的最高技术，最终使晶振晶片表面更光洁，平行度及平面度更好，降低谐振电阻，提高Q值。从而达到一般研磨所达不到的产品性能，使石英晶振的等效电阻等更接近理论值，使晶振可在更低功耗下工作。使用先进的牛顿环及单色光的方法去检测晶片表面的状态。 JLX-2

加高晶振	单位	HSX321S晶振	石英晶振基本条件
标准频率	f_nom	10MHZ~54MHZ	标准频率
储存温度	T_stg	-40°C~+125°C	裸存
工作温度	T_use	-10°C~+60°C	标准温度
激励功率	DL	10~100μW Max.	推荐:10μW～100μW
频率公差	f_— l	±50× 10-6(标准), (±7× 10-6~±50× 10-6可用)	+25°C对于超出标准的规格说明, 请联系我们以便获取相关的信息,http://www.quartzcrystal.cn/
频率温度特征	f_tem	±30× 10-6/±50× 10-6/-40°C~+105°C	超出标准的规格请联系我们.
负载电容	CL	8pF,10pF,12PF	不同负载电容要求,请联系我们.
串联电阻(ESR)	R1	如下表所示	-10°C ~+60°C,DL = 100μW
频率老化	f_age	±20× 10-6/ year Max.	+25°C,第一年

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每个封装类型的注意事项:陶瓷包装晶振与SON产品:在焊接陶瓷封装晶振和SON产品 (陶瓷包装是指晶振外观采用陶瓷制品) 之后,弯曲电路板会因机械应力而导致焊接部分剥落或封装分裂（开裂）。尤其在焊接这些产品之后进行电路板切割时,务必确保在应力较小的位置布局晶体并采用应力更小的切割方法。加高晶振,贴片晶振,HSX321S晶振,进口晶振
陶瓷包装石英贴片晶振:在一个不同扩张系数电路板（环氧玻璃）上焊接陶瓷封装石英晶振时,在温度长时间重复变化时可能导致端子焊接部分发生断裂,请事先检查焊接特性。（2）陶瓷封装贴片晶振:在一个不同扩张系数电路板（环氧玻璃）上焊接陶瓷封装贴片晶振时,在温度长时间重复变化时可能导致端子焊接部分发生断裂,请事先检查焊接特性。
（3）柱面式产品:产品的玻璃部分直接弯曲引脚或用力拉伸引脚会导致在引脚根部发生密封玻璃分裂（开裂）,也可能导致气密性和产品特性受到破坏。当石英SMD晶振的引脚需弯曲成下图所示形状时,应在这种场景下留出0.5mm的引脚并将其托住,以免发生分裂。当该引脚需修复时,请勿拉伸,托住弯曲部分进行修正。在该密封部分上施加一定压力,会导致气密性受到损坏。所以在此处请不要施加压力。另外,为避负机器共振造成引脚疲劳切断,建议用粘着剂将产品固在定电路板上。 JLX-5

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测试条件:(1)电源电压超过 150µs，直到电压级别从 0 %达到 90 % 。电源电压阻抗低于电阻 2Ω。(2)其他:输入电容低于 15 pF5倍频率范围或更多测量频率。铅探头应尽可能短。测量频率时，探头阻抗将高于 1MΩ。当波形经过SMD型石英晶体谐振器振荡器的放大器时，可同时进行测量。(3)其他:CL包含探头电容。应使用带有小的内部阻抗的电表。使用微型插槽，以观察波形。（请勿使用该探头的长接地线。）加高晶振,贴片晶振,HSX321S晶振,进口晶振

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负载电容:如果振荡电路中负载电容的不同，可能导致台产3225晶振振荡频率与设计频率之间产生偏差，如下图所示。电路中的负载电容的近似表达式 CL≒CG × CD / （CG+CD） + CS。其中CS表示电路的杂散电容。

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振荡电路的检查方法:振荡频率测量:必须尽可能地测量导航仪石英晶体安装在电路上的谐振器的振荡频率的真实值，使用正确的方法。在振荡频率的测量中，通常使用探头和频率计数器。然而,
我们的目标是通过限制测量工具对振荡电路本身的影响来测量。有三种频率测量模式，如下面的图所示（图）。2, 3和4）。最精确的测量方法是通过使用任何能够精确测量的频谱分析仪来实现的。
接触振荡电路。探针不影响图2，因为缓冲器的输出是通过3.2x2.5石英晶振输入振荡电路的输出来测量的。逆变器进入下一阶段。探针不影响图3，因为在IC上测量缓冲器输出（1/1、1/2等）。图4示出了来自ic的无缓冲器输出接收的情况，由此通过小尺寸测量来最小化探针的效果。输出点之间的电容（3 pF以下XTAL终端IC）和探针。然而，应该注意到，使用这种方法输出波形较小，测量不能依赖于即使示波器能检查振荡波形，频率计数器的灵敏度也可以。在这种情况下，使用放大器来测量。

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