Cardinal晶振,贴片晶振,CSM1晶振,石英晶振

普通石英晶振,外观完全使用金属材料封装的,产品本身采用全自动石英晶体检测仪,以及跌落,漏气等苛刻实验.产品本身具有高稳定性,高可靠性的石英晶体谐振器,焊接方面支持表面贴装,外观采用金属封装,具有充分的密封性能,晶振本身能确保其高可靠性,采用编带包装,可对应产品应用到自动贴片机告诉安装,满足无铅焊接的高温回流温度曲线要求.

Taitien成立于1976年，是石英晶体的原始制造商之一。在二十世纪九十年代初，Taitien成为VCXO主要供应商的主要电信公司。在接下来的几年中，泰投投入大量资源用于研发，成为CMOS和LVPECL输出的表面贴装振荡器的领先生产商之一。泰泰被认为是频控产品的顶级制造商，为其全球客户提供领先的解决方案。
此次收购的联合产品将大大增强我们的可编程振荡器功能，并使我们能够提供更广泛的无源晶振产品。我们将继续提供Cardinal Components产品系列。业务将像往常一样继续使用相同的通信渠道。然而，最终的计划，后勤和会计活动将重新部署在美国弗吉尼亚州夏洛特维尔的泰坦美国子公司Isotemp。

Cardinal晶振,贴片晶振,CSM1晶振,石英晶振,贴片石英晶体,体积小,焊接可采用自动贴片系统,产品本身小型,表面贴片晶振,特别适用于有小型化要求的电子数码产品市场领域,因产品小型,薄型优势,耐环境特性,包括耐高温,耐冲击性等,在移动通信领域得到了广泛的应用,晶振产品本身可发挥优良的电气特性,满足无铅焊接的高温回流温度曲线要求.

石英晶振曲率半径加工技术：晶振晶片在球筒倒边加工时应用到的加工技术，主要是研究满足不同曲率半径石英晶振晶片设计可使用的方法。如：1、是指球面加工曲率半径的工艺设计（ a、球面的余弦磨量； b、球面的均匀磨量；c、球面加工曲率半径的配合）2、在加工时球面测量标准的设计原则（曲率半径公式的计算）。进口无源谐振器,小体积3225晶振,QC32晶振

Cardinal晶振	单位	CSM1晶振	石英晶振基本条件
标准频率	f_nom	3.579545~80MHZ	标准频率
储存温度	T_stg	-55°C~+125°C	裸存
工作温度	T_use	-10°C~+85°C	标准温度
激励功率	DL	1.0mW Max.	推荐:1.0mW
频率公差	f_— l	±15,30,50,100× 10-6	+25°C对于超出标准的规格说明, 请联系我们以便获取相关的信息,http://www.quartzcrystal.cn/
频率温度特征	f_tem	±10,30,50,100× 10-6/-40°C~+85°C	超出标准的规格请联系我们.
负载电容	CL	18PF	不同负载电容要求,请联系我们.
串联电阻(ESR)	R1	如下表所示	-40°C~+85°C,DL = 100μW
频率老化	f_age	±5× 10-6/year Max.	+25°C,第一年

这些晶振知识介绍是指，金属面晶振在产品上线之后发生不良品或者没反应的情况下，自检办法。石英晶振如果在电路上的功能不规则或根本无法全部晶振找出得到了应用操作，请使用以下的清单找出可能存在的问题。请按照确定的因素和可能的解决方案的说明。我们从晶振使用输出无信号开始寻找相关问题。Cardinal晶振,贴片晶振,CSM1晶振,石英晶振
我们可以先使用示波器或者频率计数器来检查石英4脚晶体终端的两个信号，如果没有信号输出，请按照步骤1-1到1-4步执行检查。如果有从石英晶振（XOUT）的输出端子的输出信号，而是从在终端（辛）输出没有信号，请检查石英晶振体以下step1-5到步骤1-6。

你可以先把晶体卸载下来并测试石英进口晶振的频率和负载电容，看看他们是否能振动，也可以使用专业的石英晶体测试仪器来检测 。如果你没法检测你也可以将不良品发送给我公司，我们检测分析之后告诉你结果。如果有下列情况发生，晶振不起振，首先你先查看你产品上使用的负载电容CL是否对，是否跟你的线路相匹配，或者是晶振的精度是否符合你的要求，或者你可以把产品发送回我公司分析。如果晶振频率和负载电容跟要求相对应的话，我们将需要进行等效电路测试。比如等效电路测试如下：进口无源谐振器,小体积3225晶振,QC32晶振

负载电容:如果振荡电路中负载电容的不同，可能导致进口大型49S谐振器振荡频率与设计频率之间产生偏差，如下图所示。电路中的负载电容的近似表达式 CL≒CG × CD / （CG+CD） + CS。其中CS表示电路的杂散电容。Cardinal晶振,贴片晶振,CSM1晶振,石英晶振

测试条件:(1)电源电压:超过 150µs，直到电压级别从 0 %达到 90 % 。电源电压阻抗低于电阻 2Ω。(2)其他:输入电容低于 15 pF5倍频率范围或更多测量频率。铅探头应尽可能短。测量引线型压电石英晶体频率时，探头阻抗将高于 1MΩ。当波形经过振荡器的放大器时，可同时进行测量。(3)其他:CL包含探头电容。应使用带有小的内部阻抗的电表。使用微型插槽，以观察波形。（请勿使用该探头的长接地线）.

振荡频率测量:必须尽可能地测量安装在2脚进口49SMD晶振电路上的的振荡频率的真实值，使用正确的方法。在振荡频率的测量中，通常使用探头和频率计数器。然而,我们的目标是通过限制测量工具对振荡电路本身的影响来测量。有三种频率测量模式，如下面的图所示（图）。2, 3和4）。最精确的测量方法是通过使用任何能够精确测量的频谱分析仪来实现的。
接触振荡电路:探针不影响图2，因为缓冲器的输出是通过两脚无源石英晶振输入振荡电路的输出来测量的。逆变器进入下一阶段。探针不影响图3，因为在IC上测量缓冲器输出（1/1、1/2等）。图4示出了来自ic的无缓冲器输出接收的情况，由此通过小尺寸测量来最小化探针的效果。输出点之间的电容（3 pF以下XTAL终端IC）和探针。然而，应该注意到，使用这种方法输出波形较小，测量不能依赖于即使示波器能检查振荡波形，频率计数器的灵敏度也可以。在这种情况下，使用放大器来测量。进口无源谐振器,小体积3225晶振,QC32晶振