弯角插件型32.768K,环保石英晶振,AB26TRB晶振

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ABRACON旗舰ABLNO系列提供超低相位噪声固定时钟或电压控制晶体振荡器（VCXO）解决方案标准尺寸为9x14mm。同超过12 kHz的37fs典型RMS抖动20MHz带宽@ 100MHz载波，ABLNO是性能驱动的理想选择通讯，射频，无线回程，和仪器应用。
由于大多数Pierce振荡器的跨导（gm）继续向前所未有的低水平下降，所以ABRACON石英晶体不仅被迫尺寸较小，而且还提供非常低的电镀负载（CL）和低等效串联电阻（ESR）参数选项。满足节能MCU和RF芯片组要求的最低gm_critical要求取决于保持低CL，ESR和C0参数的保证。

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ABRACON晶振,弯角插件晶振,AB26TRB晶振,2*6mm弯角插件型两脚晶体谐振器,拥有优良的抗冲击性和可回流能力,是无线模块,数字显示器,蓝牙,仪器仪表等低消费电子产品最理想的石英晶振,AB26TRB晶振是根据ROHS 2002/95/EC环保标准生产的,每一颗都符合国际上的电子类产品的环保理念.
组件的主体/罐体不要焊接, 否则可能会损坏晶体.使用粘合剂/粘合材料(即橡胶粘合剂,环氧树脂等)将组分体固定在PCB上.特别是随着晶振的晶片尺寸的缩小对于晶片电极设计的形状及尺寸和精度上都有更高的要求---公差大小.位置的一致性等对晶振产品的影响的程度增大,故对电极的设计提出了更精准的要求.

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ABRACON晶振	单位	AB26TRB晶振	石英晶振基本条件
标准频率	f_nom	32.768KHZ	标准频率
储存温度	T_stg	-55°C～+125°C	裸存
工作温度	T_use	-40°C～+85°C	标准温度
激励功率	DL	1μW Max.	推荐:1μW～100μW
频率公差	f_— l	±20 × 10-6(标准)	+25°C对于超出标准的规格说明, 请联系我们以便获取相关的信息,http://www.quartzcrystal.cn/
频率温度特征	f_tem	±30 × 10-6/-20°C～+70°C	超出标准的规格请联系我们.
负载电容	CL	12.5pF	不同负载要求,请联系我们.
串联电阻(ESR)	R1	如下表所示	-40°C — +85°C,DL = 100μW
频率老化	f_age	±3 × 10-6/ year Max.	+25°C,第一年

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AB26TRB 6.0-1.9

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机械振动的影响
当晶振产品上存在任何给定冲击或受到周期性机械振动时，比如：压电扬声器，压电蜂鸣器，以及喇叭等，输出频率和幅度会受到影响。这种现象对通信器材通信质量有影响。尽管晶体产品设计可最小化这种机械振动的影响，我们推荐事先检查并按照下列安装指南进行操作。ABRACON晶振,弯角插件晶振,AB26TRB晶振
PCB设计指导
(1)理想情况下，机械蜂鸣器应安装在一个独立于音叉晶体器件的PCB板上。如果您安装在同一个PCB板上，最好使用余量或切割PCB。当应用于PCB板本身或PCB板体内部时，机械振动程度有所不同。建议遵照内部板体特性。
(2)在设计时请参考相应的推荐封装。
(3)在使用焊料助焊剂时，按JIS标准(JIS C 60068-2-20/IEC 60,068-2-20).来使用。
(4)请按JIS标准(JIS Z 3282, Pb 含量 1000ppm, 0.1wt% 或更少)来使用无铅焊料。
存储事项
(1)在更高或更低温度或高湿度环境下长时间保存进口贴片晶振产品时，会影响频率稳定性或焊接性。请在正常温度和湿度环境下保存这些晶体产品，并在开封后尽可能进行安装，以免长期储藏。
正常温度和湿度：
温度：+15°C 至 +35°C，湿度 25 % RH 至 85 % RH（请参阅“测试点JIS C 60068-1 / IEC 60068-1的标准条件”章节内容）。
(2)请仔细处理内外盒与卷带。外部压力会导致卷带受到损坏。

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振荡电路的检查方法:
振荡频率测量
必须尽可能地测量安装在电路上的谐振器的振荡频率的真实值，
使用正确的方法。在振荡频率的测量中，通常使用探头和频率计数器。然而,
我们的目标是通过限制测量工具对振荡电路本身的影响来测量。
有三种频率测量模式，如下面的图所示（图）。2, 3和4）。最
精确的测量方法是通过使用任何能够精确测量的频谱分析仪来实现的。
接触振荡电路。
探针不影响图2，因为缓冲器的输出是通过输入振荡电路的输出来测量的。
逆变器进入下一阶段。
探针不影响图3，因为在IC上测量缓冲器输出（1/1、1/2等）。
图4示出了来自ic的无缓冲器输出接收的情况，由此通过小尺寸测量来最小化探针的效果。
输出点之间的电容（3 pF以下XTAL终端IC）和探针。
然而，应该注意到，使用这种方法输出波形较小，测量不能依赖于
即使示波器能检查振荡波形，频率计数器的灵敏度也可以。在这种情况下，使用放大器来测量。