自从我们在1990年成立以来,golledge电子取得了前所未有的成功。经过多年的不断增长,我们现在是英国最主要的频率控制产品供应商。我们的注册到iso - 9001 :2015强调了对质量的全面承诺,同时我们的产品的完整性由我们的专门的内部测试和测量实验室确保。我们的专业和高效的方法使我们成为许多领先的电子设备OEM和河北的首选供应商。
我们的理念是以产品和服务的质量和一致性为基础的。我们致力于为业界提供最高的服务质量。我们的持续增长和极高的客户保留水平是这一承诺的证据。我们的理念始终以产品和服务的质量和一致性为基础。我们多年来一直努力保持我们的产品在频率控制市场的发展的最前沿。
Golledge晶振,8038晶振,CC1A晶振.贴片晶振本身体积小,超薄型石英晶体谐振器,特别适用于有目前高速发展的高端电子数码产品,因为晶振本身小型化需求的市场领域,小型?薄型是对应陶瓷谐振器(偏差大)和普通的石英晶体谐振器(偏差小)的中间领域的一种性价比较出色的产品.产品广泛用于笔记本电脑,无线电话,卫星导航HDD, SSD, USB, Blu-ray等用途,符合无铅焊接的高温回流焊曲线特性.
高利奇晶振的真空封装技术:是指石英晶振在真空封装区域内进行封装。1.防止外界气体进入组件体内受到污染和增加应力的产生;2.使晶振组件在真空下电阻减小;3.气密性高。此技术为研发及生产超小型、超薄型石英晶振必须攻克的关键技术之一。
golledge晶振 |
单位 |
CC1A晶振 |
石英晶振基本条件 |
标准频率 |
f_nom |
8.000MHZ~30.000MHZ |
标准频率 |
储存温度 |
T_stg |
-55°C~+125°C |
裸存 |
工作温度 |
T_use |
-55°C~+125°C |
标准温度 |
激励功率 |
DL |
100-500μW Max. |
推荐:1μW~100μW |
频率公差 |
f_— l |
±50 × 10-6(标准) |
+25°C对于超出标准的规格说明, |
频率温度特征 |
f_tem |
±30 × 10-6/-20°C~+70°C |
超出标准的规格请联系我们. |
负载电容 |
CL |
20pF |
不同负载要求,请联系我们. |
串联电阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C — +85°C,DL = 100μW |
频率老化 |
f_age |
±3 × 10-6/ year Max. |
+25°C,第一年 |
操作
请勿用镊子或任何坚硬的工具,夹具直接接触8038贴片晶振的表面。
使用环境(温度和湿度)
请在规定的温度范围内使用耐高温晶振。这个温度涉及本体的和季节变化的温度。在高湿环境下,会由于凝露引起故障。请避免凝露的产生。
晶体单元/谐振器
激励功率
在晶体单元上施加过多驱动力,会导致8038晶振特性受到损害或破坏。电路设计必须能够维持适当的激励功率 (请参阅“激励功率”章节内容)。
负极电阻
除非振荡回路中分配足够多的负极电阻,否则振荡或振荡启动时间可能会增加(请参阅“关于振荡”章节内容)。
负载电容
振荡电路中负载电容的不同,可能导致石英水晶振子振荡频率与设计频率之间产生偏差。试图通过强力调整,可能只会导致不正常的振荡。在使用之前,请指明该振动电路的负载电容(请参阅“负载电容”章节内容)。Golledge晶振,8038晶振,CC1A晶振
振荡电路的检查方法
振荡频率测量
必须尽可能地测量安装在电路上的谐振器的振荡频率的真实值,
使用正确的方法。在振荡频率的测量中,通常使用探头和频率计数器。然而,
我们的目标是通过限制测量工具对振荡电路本身的影响来测量。
有三种频率测量模式,如下面的图所示(图)。2, 3和4)。最
精确的测量方法是通过使用任何能够精确测量的频谱分析仪来实现的。
接触振荡电路。
探针不影响图2,因为缓冲器的输出是通过输入振荡电路的输出来测量的。
逆变器进入下一阶段。
探针不影响图3,因为在IC上测量缓冲器输出(1/1、1/2等)。
图4示出了来自ic的无缓冲器输出接收的情况,由此通过小尺寸测量来最小化探针的效果。
输出点之间的电容(3 pF以下XTAL终端IC)和探针。
然而,应该注意到,使用这种方法输出波形较小,测量不能依赖于
即使示波器能检查振荡波形,频率计数器的灵敏度也可以。在这种情况下,使用放大器来测量。Golledge晶振,8038晶振,CC1A晶振
此外,振荡频率与测量点不同。
1。测量缓冲输出
2。振荡级输出测量
三.通过电容器测量振荡级输出
图5示出以上1-3个测量点和所测量的
除缓冲器输出外,振荡频率较低。