该曲线代表电容变化与频率变化（频率pullability）变化的变化：
微晶晶振，贴片晶振,石英晶体振荡器在“制造、使用、有效利用、再利用”这样一个产品生命周期中，努力创造丰富的价值，给社会带来温馨和安宁，感动和惊喜，同时为减少环境影响，努力做好“防止地球变暖、有效利用资源、对化学物质进行管理”，实现与地球的和谐相处。对我们的产品进行检验，同时告知我们的员工顾客以及公众，如何安全的使用，如何使用对环境影响较小，帮助我们的雇员合同方商业伙伴服务提供上理解他们的行为如何影响着环境。公司的各项能源、资源消耗指标和排放指标达到国内领先、国际先进水平。
微晶的管理团队以及领导的工作人员。职位提供了一个积极的例子，在所有领域的质量行为。公司。他们激励员工始终如一地思考问题。质量与成本。 微晶玻璃（MC）的管理、环境与社会责任原则执行（MES）大纲标准，以确保石英晶振MC设备的工作条件，以及供应链合作伙伴的活动支持MC的要求，是安全的，工人是尊重和尊严对待，以及制造过程使用MC和它的作伙伴对环境负责。外，参与者应持有其实践对最初的MES审计和随后的MES监督审核开放。要使这些原则获得成功，与会者应视为原则。全面供应链计划。至少，参加者应鼓励他们的下一层。
微晶晶振,贴片晶振,CC6A-T1AH晶振,无源贴片晶振,超小型表面贴片型SMD晶振,最适合使用在汽车电子领域中,也是特别要求高可靠性的引擎控制用CPU的时钟部分.低频晶振可从16.000MHz起对应,小型,超薄型具备强防焊裂性,石英晶体在极端严酷的环境条件下也能发挥稳定的起振特性,产品本身具有耐热,耐振,耐撞击等优良的耐环境特性,满足无铅焊接以及高温回流温度曲线要求,符合AEC-Q200标准.
石英晶振的研磨技术：通过对晶振切割整形后的晶片进行研磨，使石英晶振的晶片达到（厚度/频率）的一定范围。无源晶振晶片厚度与频率的关系为：在压电晶体行业，生产晶振频率的高低是显示鸿星技术水平的一个方面，通过理论与实际相结合，累积多年的晶振研磨经验，通过深入细致地完善石英晶振研磨工艺技术，注重贴片晶振研磨过程的各种细节，注重晶振所用精磨研磨设备的选择；注重所使用水晶、研磨砂的选择等；注重石英晶振研磨用工装如：游轮的设计及选择，从而使研磨晶振晶片在平面度、平行度、弯曲度都有很好的控制，最终使可研磨的石英晶振晶片的厚度越来越薄，贴片晶振晶片的频率越来越高，为公司在高频石英晶振的研发生产打下坚实基础，提升了晶振厂家的竞争力，使晶振厂家高频石英晶振的研发及生产领先于国内其它公司。
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16~40MHZ |
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+25°C对于超出标准的规格说明, |
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20PF |
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请测量使用示波器或频率计数器石英SMD晶振的两个端子的信号，如果频率不在规定范围内，它的输出波形的幅度是不够的（例如超过+/-200ppm的），请按照步骤2-3步骤2-5。The formula for Capacitances versus Frequency is as following:该公式的电容与频率是如下：FL = FR * (1 + C1 / 2 * (C0 + CL) ) where微晶晶振,贴片晶振,CC6A-T1AH晶振,无源贴片晶振
该曲线代表电容变化与频率变化（频率pullability）变化的变化：
如果由频率计数器测量的频率比目标频率高，要增加进口石英晶振的电容（CL，或Cd以及C 8）的值，以降低频率到目标频率，反之亦然。请检查波形幅度是否改善或没有经过我们调整频率。如果它的改善，这表示该电路的原始设计不是调谐到最佳共振点为晶体的情况。该晶振应正常后，谐振点的调整。如果波形幅度甚至没有提高的频率非常接近目标频率，我们可以通过以下三种方法改进：
方法1：降低产品线路外部电容（Cd和CG）的值，并通过SMD无源晶体具有较低负载电容（CL）。方法2：采用小电阻（RR）的晶体。方法3：使用镉和CG的不等价的设计。我们可以增加镉（XOUT）的负载电容和降低CG（辛）的负载电容以提高从辛波形幅度将在其后端电路中使用的输出。我们建议您使用上面的方法来节省成本，保证安全。请用频率计数器来测量所述晶体，以确保经调整频率仍然满足原说明书后的波形的振幅进行了改进。如果频率不符合规格，请采用晶体合适的CL值为根据您的目标频率。请采用晶振具有较低的CL如果频率比目标频率，反之亦然高得多系统不能正常工作，由于输出频率会偏差很大。
测试条件(1)电源电压:超过 150µs，直到电压级别从 0 %达到 90 % 。陶瓷面四脚贴片晶振电源电压阻抗低于电阻 2Ω。(2)其他:输入电容低于 15 pF5倍频率范围或更多测量频率。铅探头应尽可能短。测量频率时，探头阻抗将高于 1MΩ。当波形经过振荡器的放大器时，可同时进行测量。(3)其他:CL包含探头电容。应使用带有小的内部阻抗的电表。使用微型插槽，以观察波形。（请勿使用该探头的长接地线）.微晶晶振,贴片晶振,CC6A-T1AH晶振,无源贴片晶振
负载电容:如果振荡电路中负载电容的不同，可能导致石英晶体谐振器振荡频率与设计频率之间产生偏差，如下图所示。电路中的负载电容的近似表达式 CL≒CG × CD / （CG+CD） + CS。其中CS表示电路的杂散电容。
振荡频率测量:必须尽可能地测量安装在小体积石英晶体电路上的谐振器的振荡频率的真实值，使用正确的方法。在振荡频率的测量中，通常使用探头和频率计数器。然而,我们的目标是通过限制测量工具对振荡电路本身的影响来测量。有三种频率测量模式，如下面的图所示（图）。2, 3和4）。最精确的测量方法是通过使用任何能够精确测量的频谱分析仪来实现的。
接触振荡电路:探针不影响图2，因为缓冲器的输出是通过贴片石英晶振输入振荡电路的输出来测量的。逆变器进入下一阶段。探针不影响图3，因为在IC上测量缓冲器输出（1/1、1/2等）。图4示出了来自ic的无缓冲器输出接收的情况，由此通过小尺寸测量来最小化探针的效果。输出点之间的电容（3 pF以下XTAL终端IC）和探针。然而，应该注意到，使用这种方法输出波形较小，测量不能依赖于即使示波器能检查振荡波形，频率计数器的灵敏度也可以。在这种情况下，使用放大器来测量。
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