Raltron晶振,进口晶振,H14晶振
频率:32.768KHz
尺寸:6.9*1.4*1.3mm
所有Raltron员工致力于追求品质和卓越。这个哲学通过多年不间断的增长,使得Raltron处于领先地位。Raltron还通过提供追求快速增长的物联网和机器到机器市场完整的无源器件封装,包括晶体,温补晶振,SAW滤波器,LTCC滤波器和巴伦以及相应IC解决方案规定的各种天线。通过全球独立销售网络为全球客户提供支持代表以及亚洲的几个附属办事处,战略地位于主要客户附近和市场。
美国RALTRON晶振公司事业废弃物产出量逐年降低,可回收、再利用之废弃物比例逐年提高,各项排放检测数据符合政府法规要求.并由原材料管控禁用或限用环境危害物质与国际大厂对于石英晶振绿色生产及绿色产品的要求相符,于2004年通过SONY 绿色伙伴(Green Partner)验证.
Raltron晶振,进口晶振,H14晶振.SMD型陶瓷面外壳32.768K系列具有超小型,薄型,质地轻的表面贴片音叉型石英晶体谐振器,晶振产品本身具备优良的耐热性,耐环境特性,符合RoHS规定,满足无铅焊接的高温回流温度曲线要求,是对应陶瓷谐振器(偏差大)和普通的石英晶体谐振器(偏差小)的中间领域的一种性价比较出色的产品.
拉隆晶振捡漏:检查石英贴片晶振封焊后的产品是否有漏气现象(粗捡漏、细捡漏),粗捡漏:检查较大的漏气现象。细捡漏:检查较小的漏气现象。酒精捡漏:把晶振放置在酒精容器内加压,取出后对产品进行绝缘测试,判定是否漏气。一般用绝缘电阻测试法进行,要求直流电压 Vcc=100 V、绝缘电阻 RR≥500 MΩ。用于粗捡漏。精工SSP-T7-F同款晶体,32.768K陶瓷封装晶振,H14晶振
Raltron晶振 |
单位 |
H14晶振 |
石英晶振基本条件 |
标准频率 |
f_nom |
32.768KHZ |
标准频率 |
储存温度 |
T_stg |
-40°C ~ +125°C |
裸存 |
工作温度 |
T_use |
-20°C ~ +70°C |
标准温度 |
激励功率 |
DL |
0.1μW Max. |
推荐:1μW ~ 100μW |
频率公差 |
f_— l |
±20ppm、±50ppm |
+25°C 对于超出标准的规格说明, |
频率温度特征 |
f_tem |
±50 × 10-6/-20°C ~ +70°C |
超出标准的规格请联系我们. |
负载电容 |
CL |
10pF~32pF |
不同负载电容要求,请联系我们. |
串联电阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C — +85°C, DL = 100μW |
频率老化 |
f_age |
±5 × 10-6 / year Max. |
+25°C,第一年 |
清洗
关于一般清洗液的使用以及超声波清洗没有问题,但这仅仅是对单个进口晶振产品进行试验所得的结果,因此请根据实际使用状态进行确认。
由于音叉型晶体谐振器的频率范围和超声波清洗机的清洗频率很近,容易受到共振破坏,因此请尽可能避免超声波清洗。
若要进行超声波清洗,必须事先根据实际使用状态进行确认。精工SSP-T7-F同款晶体,32.768K陶瓷封装晶振,H14晶振
撞击
虽然32.768K晶振产品在设计阶段已经考虑到其耐撞击性,但如果掉到地板上或者受到过度的撞击,以防万一还是要检查特性后再使用。
装载
<SMD产品>
SMD晶体产品支持自动贴装,但还是请预先基于所使用的搭载机实施搭载测试,确认其对特性没有影响。 在切断工序等会导致基板发生翘曲的工序中,请注意避免翘曲影响到产品的特性以及软焊。 基于超声波焊接的贴装以及加工会使得进口贴片晶振产品(谐振器、振荡器、滤波器)内部传播过大的振动,有可能导致特性老化以及引起不振荡,因此不推荐使 用。
<引线类型产品>
当引线弯折、成型以及贴装到印制电路板时,请注意避免对基座玻璃部分施加压力。否则有可能导致玻璃出现裂痕,从而引起性能劣化。Raltron晶振,进口晶振,H14晶振
保管
保管在高温多湿的场所可能会导致端子软焊性的老化。
请在没有直射阳光,不发生结露的场所保管。
振荡电路的检查方法
振荡频率测量
必须尽可能地测量安装在电路上的无源32.768K晶振的振荡频率的真实值,
使用正确的方法。在振荡频率的测量中,通常使用探头和频率计数器。然而,
我们的目标是通过限制测量工具对振荡电路本身的影响来测量。
有三种频率测量模式,如下面的图所示(图)。2, 3和4)。最
精确的测量方法是通过使用任何能够精确测量的频谱分析仪来实现的。
接触振荡电路。Raltron晶振,进口晶振,H14晶振
探针不影响图2,因为缓冲器的输出是通过输入振荡电路的输出来测量的。
逆变器进入下一阶段。
探针不影响图3,因为在IC上测量缓冲器输出(1/1、1/2等)。
图4示出了来自ic的无缓冲器输出接收的情况,由此通过小尺寸测量来最小化探针的效果。
输出点之间的电容(3 pF以下XTAL终端IC)和探针。
然而,应该注意到,使用这种方法7015贴片晶振输出波形较小,测量不能依赖于
即使示波器能检查振荡波形,频率计数器的灵敏度也可以。在这种情况下,使用放大器来测量。精工SSP-T7-F同款晶体,32.768K陶瓷封装晶振,H14晶振
此外,耐用石英晶体振荡频率与测量点不同。
1。测量缓冲输出
2。振荡级输出测量
三.通过电容器测量振荡级输出
图5示出以上1-3个测量点和所测量的
除缓冲器输出外,振荡频率较低。
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JLX-PD
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