微晶晶振,音叉晶体,CC1V-T1A晶振
频率:10.000KHz~2000.000KHz
尺寸:8.0*3.7*1.75mm
微晶公司在全球约550个员工的责任感和奉献精神是我们成功的基石。我们对管理、环境、社会责任都有明确的行为准则(比如对有争议的原材料的问题上),这些是我们在未来保持竞争优势的主要原因。贴片晶振产品服务范围涵盖手机、计算机、汽车电子、手表、工业控制、植入式医疗及其他高可靠性产品。
供应商确认和执行原则。采纳这些原则的基本原则是理解一个企业,即它的所有业务动必须完全遵守国家的法律、法规和规章它在其中运行。这些原则鼓励参与者考虑超越法律,遵守国际公认标准,促进社会和环境责任。8037低频贴片晶振,小型陶瓷壳封装晶体,CC1V-T1A晶振
微晶晶振,音叉晶体,CC1V-T1A晶振.智能手机晶振,产品具有高精度超小型的表面贴片型石英晶体振荡器,最适用于移动通信终端的基准时钟等移动通信领域.比如智能手机,无线通信,卫星导航,平台基站等较高端的数码产品,晶振本身小型,薄型具备各类移动通信的基准时钟源用频率.
微晶石英晶振曲率半径加工技术:石英晶体谐振器晶片在球筒倒边加工时应用到的加工技术,主要是研究满足不同曲率半径石英晶振晶片设计可使用的方法。如:1、是指球面加工曲率半径的工艺设计( a、球面的余弦磨量; b、球面的均匀磨量;c、球面加工曲率半径的配合)2、在加工时球面测量标准的设计原则(曲率半径公式的计算)。
微晶晶振 |
单位 |
CC1V-T1A晶振 |
石英晶振基本条件 |
标准频率 |
f_nom |
10.000KHZ~2000.000KHZ |
标准频率 |
储存温度 |
T_stg |
-55°C ~ +125°C |
裸存 |
工作温度 |
T_use |
-40°C ~ +85°C |
标准温度 |
激励功率 |
DL |
1.0μW Max. |
推荐:1μW ~ 100μW |
频率公差 |
f_— l |
±20 × 10-6 (标准) |
+25°C 对于超出标准的规格说明, |
频率温度特征 |
f_tem |
±100 × 10-6/-40°C ~ +85°C |
超出标准的规格请联系我们. |
负载电容 |
CL |
4.0PF~12.5PF |
不同负载电容要求,请联系我们. |
串联电阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C — +85°C, DL = 100μW |
频率老化 |
f_age |
±3× 10-6 / year Max. |
+25°C,第一年 |
耐焊性
加热包装材料至+150°C以上会破坏产品特性或损害谐振器。如需在+150°C以上焊接晶体产品,建议使用SMD晶体。在下列回流条件下,对晶体产品甚至SMD晶振使用更高温度,会破坏产品特性。建议使用下列配置情况的回流条件。安装这些产品之前,应检查焊接温度和时间。同时,在安装条件更改的情况下,请再次进行检查。如果需要焊接的晶体产品在下列配置条件下进行焊接,请联系我们以获取耐热的相关信息。微晶晶振,音叉晶体,CC1V-T1A晶振
自动安装时的冲击
自动安装和真空化引发的冲击会破坏产品特性并影响这些进口晶体振荡器。请设置安装条件以尽可能将冲击降至最低,并确保在安装前未对产品特性产生影响。条件改变时,请重新检查安装条件。同时,在安装前后,请确保石英晶振未撞击机器或其他电路板等。
每个封装类型的注意事项
(1)陶瓷包装产品与SON产品
在焊接陶瓷谐振器产品和SON产品 (MC-146,RTC-****NB,RX-****NB) 之后,弯曲电路板会因机械应力而导致焊接部分剥落或封装分裂(开裂)。尤其在焊接这些产品之后进行电路板切割时,务必确保在应力较小的位置布局晶体并采用应力更小的切割方法。8037低频贴片晶振,小型陶瓷壳封装晶体,CC1V-T1A晶振
振荡电路的检查方法
振荡频率测量
必须尽可能地测量安装在电路上的压电石英晶体的振荡频率的真实值,
使用正确的方法。在振荡频率的测量中,通常使用探头和频率计数器。然而,
我们的目标是通过限制测量工具对振荡电路本身的影响来测量。8037低频贴片晶振,小型陶瓷壳封装晶体,CC1V-T1A晶振
有三种频率测量模式,如下面的图所示(图)。2, 3和4)。最
精确的测量方法是通过使用任何能够精确测量的频谱分析仪来实现的。
接触振荡电路。
探针不影响图2,因为缓冲器的输出是通过输入振荡电路的输出来测量的。
逆变器进入下一阶段。
探针不影响图3,因为在IC上测量缓冲器输出(1/1、1/2等)。
图4示出了来自ic的无缓冲器输出接收的情况,由此通过小尺寸测量来最小化探针的效果。
输出点之间的电容(3 pF以下XTAL终端IC)和探针。
然而,应该注意到,使用这种方法8038晶振输出波形较小,测量不能依赖于
即使示波器能检查振荡波形,频率计数器的灵敏度也可以。在这种情况下,使用放大器来测量。微晶晶振,音叉晶体,CC1V-T1A晶振
此外,32.768K贴片晶振振荡频率与测量点不同。
1。测量缓冲输出
2。振荡级输出测量
三.通过电容器测量振荡级输出
图5示出以上1-3个测量点和所测量的
除缓冲器输出外,振荡频率较低。
公司名:深圳市金洛鑫电子有限公司
联系人:茹红青
手机:13510569637
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