高稳定性假贴片晶振,金属封装大型谐振器,ABLS晶振

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Abracon晶振,贴片晶振,ABLS晶振,无源谐振器

频率：3.579545~75MHZ

尺寸：11.5*4.7*4.2mm

普通贴片石英晶振外观使用金属材料封装的,具有高稳定性,高可靠性的石英晶体谐振器,晶振外观本身使用金属封装,充分的密封性能,可确保其高可靠性,采用编带包装,外包装采用朔胶盘,可在自动贴片机上对应自动贴装等优势.

订购热线：0755-27837162

奥斯汀,得克萨斯州,Abracon LLC(Abracon),全球领先的晶振制造商被动&机电时间同步,权力,连通性和射频解决方案宣布音频和视频解决方案指南强调产品适合使用者应用程序如机顶盒,虚拟现实,便携式音频、视频/电话会议,耐磨,物联网,无人机,相机/摄像机、显示器和高保真音频以及专业应用,如音频混合器,唱片的质量接收器,广播工作室相机等设备,路由器和转换器使用SDI,HD-SDI和3 g HD-SDI。高稳定性假贴片晶振,金属封装大型谐振器,ABLS晶振
Abracon的Pierce分析仪系统（PAS）由我们的工程师设计，可帮助您为行业领先的设计做出正确的选择。 PAS测试验证了电路中的石英晶体谐振器性能，同时测量晶体，晶体振荡器和印刷电路板寄生效应。测试系统中所有变量的帐户，并使晶体参数与MCU或RF芯片组中的电路板和振荡器实现理想的匹配。这对于使用下一代需要最佳gm因子的节能技术尤其重要。Abracon工程副总裁Syed Raza评论说：“半导体技术致力于将所有的功耗从最新一代的MCU和RF芯片组中扭转出来，芯片上的皮尔斯振荡器缺乏必要的增益，对gm_critical指标产生不利影响。 PAS测试是诊断可预防问题的最可靠的方法。

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Abracon晶振,贴片晶振,ABLS晶振,无源谐振器,普通石英晶振,外观完全使用金属材料封装的,产品本身采用全自动石英晶体检测仪,以及跌落,漏气等苛刻实验.产品本身具有高稳定性,高可靠性的石英晶体谐振器,焊接方面支持表面贴装,外观采用金属封装,具有充分的密封性能,晶振本身能确保其高可靠性,采用编带包装,可对应产品应用到自动贴片机告诉安装,满足无铅焊接的高温回流温度曲线要求.
SMD晶振高精密点胶技术：石英晶振晶片胶点的位置、大小：位置准确度以及胶点大小一致性，通过图像识别及高精密度数字定位系统的运用、使石英晶振晶片的点胶的精度在±0.02mm之内。将被上银电极的晶片装在弹簧支架上，点上导电胶，并高温固化，通过弹簧即可引出电信号。石英晶振晶片清洗：清除石英晶振晶片表面的污物、油物，以保证被银电极。被复良好牢固。清洗间有很多化学试剂,酒精、异丙醇、硫酸、硝酸、清洗液同时还有电炉烤箱，在晶振生产过程中应注意人身安全和设备安全。高稳定性假贴片晶振,金属封装大型谐振器,ABLS晶振

Abracon晶振	单位	ABLS晶振	石英晶振基本条件
标准频率	f_nom	3.579545~75MHZ	标准频率
储存温度	T_stg	-55°C ～ +125°C	裸存
工作温度	T_use	-0°C ～ +70°C	标准温度
激励功率	DL	1~100μW Max.	推荐:1~100μW
频率公差	f_— l	±50 × 10-6 (标准)	+25°C 对于超出标准的规格说明, 请联系我们以便获取相关的信息,http://www.quartzcrystal.cn/
频率温度特征	f_tem	±50× 10-6/-20°C ～ +70°C	超出标准的规格请联系我们.
负载电容	CL	18pF	不同负载要求,请联系我们.
串联电阻(ESR)	R1	如下表所示	-40°C — +85°C, DL = 100μW
频率老化	f_age	±5× 10-6 / year Max.	+25°C,第一年

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我们可以改善的频率输出的偏差超过范围由以下几个方法：调整外部电容，Cd和CG的值。如果由频率计数器测量频率比目标频率高，要增加外部电容CL（或Cd以及C 8的值），以降低频率到我们的目标频率，反之亦然。可以采用不同负载电容（CL）的晶振试用。试用进口SMD晶振具有较低电容若频率比目标频率超高很多的话。请检查波形幅度是否是正常或不使用示波器，正确的电容是通过和频率调节到目标之后。根据该波形振幅收缩，由于增加外部电容，请使用方法2调整频率（较低的外部电容，并采用低电容的晶体）的情况。频率输出频率的目标只有三分之一。下面的曲线表示晶体的电阻的特征：Abracon晶振,贴片晶振,ABLS晶振,无源谐振器

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晶振具有多种振动模式，如基频， 3次泛音，5次泛音等等。当基频模式应用时，金属晶振的电阻是最低的，这意味着它是最简单的石英晶体振荡器。当第三色调模式被应用，一个放大电路必须被利用以降低基本模式的频率反馈到所述延伸小于所述第三音调模式。因此，如果频率是只有三分之一的目标频率时，要检查是否放大处理电路被施加或它的设定值就足够了，因为电路的环境适合于基本模式，而不是第三次泛音调模式。该电路可能不振荡，如果放大电路不施加或它的设定值是不足够的。4-3。基频模式与三次泛音模式应用程序如下：高稳定性假贴片晶振,金属封装大型谐振器,ABLS晶振

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振荡频率测量:必须尽可能地测量安装在电路上的谐振器的振荡频率的真实值使用正确的方法。在49S假贴片晶振振荡频率的测量中，通常使用探头和频率计数器。然而,我们的目标是通过限制测量工具对振荡电路本身的影响来测量。有三种频率测量模式，如下面的图所示（图）。2, 3和4）。最精确的测量方法是通过使用任何能够精确测量的频谱分析仪来实现的。Abracon晶振,贴片晶振,ABLS晶振,无源谐振器
接触振荡电路:探针不影响图2，因为缓冲器的输出是通过49SMD晶振输入振荡电路的输出来测量的。逆变器进入下一阶段。探针不影响图3，因为在IC上测量缓冲器输出（1/1、1/2等）。图4示出了来自ic的无缓冲器输出接收的情况，由此通过小尺寸测量来最小化探针的效果。输出点之间的电容（3 pF以下XTAL终端IC）和探针。然而，应该注意到，使用这种方法输出波形较小，测量不能依赖于即使示波器能检查振荡波形，频率计数器的灵敏度也可以。在这种情况下，使用放大器来测量。

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负载电容:如果振荡电路中负载电容的不同，可能导致49S型贴片晶振振荡频率与设计频率之间产生偏差，如下图所示。电路中的负载电容的近似表达式 CL≒CG × CD / （CG+CD） + CS。其中CS表示电路的杂散电容。

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测试条件:(1)电源电压:超过 150µs，直到电压级别从 0 %达到 90 % 。电源电压阻抗低于电阻 2Ω。(2)其他:输入电容低于 15 pF5倍频率范围或更多测量频率。铅探头应尽可能短。测量频率时，探头阻抗将高于 1MΩ。当波形经过49SMD石英晶体振荡器的放大器时，可同时进行测量。(3)其他:CL包含探头电容。应使用带有小的内部阻抗的电表。使用微型插槽，以观察波形。（请勿使用该探头的长接地线）.

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