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GEYER晶振,贴片晶振,KX-327S晶振,石英进口晶振
频率：32.768KHZ
尺寸：8.0*3.8mm
GEYER ELECTRONIC成立于1964年,总部位于慕尼黑/德国.几十年来，GEYER ELECTRONIC一直是频率产品，石英晶体，振荡器和陶瓷谐振器的领先制造商之一。另外，我们还生产品牌电池，蓄电池（可充电电池）和负载技术。最高的质量，创造力和安全性是我们创新解决方案的特点。
我们是32.768K频率控制产品（晶体和振荡器）的国际供应商，并且要求特殊电池。我们稳步成长的中型企业的总部位于慕尼黑附近的Gr?felfing，我们在美国，新加坡，印度也在英国和匈牙利设有办事处。我们的客户包括电力行业和汽车制造商。我们在充满活力的公司中提供有趣和多样的工作环境和多样化的设计可能性。我们一直在寻找以下领域的初学者，专家和管理人员：开发 - 电子，射频，数字和模拟- 物流- 管理-销售及内部和外部客户服务.陶瓷面封装晶振,32.768KHZ频点晶体,KX-327S晶振
GEYER晶振,贴片晶振,KX-327S晶振,石英进口晶振,小型表面贴片晶振型,是标准的石英晶体谐振器,适用于宽温范围的电子数码产品,家电电器及MP3,MP4,播放器,单片机等领域.可对应32.768KHZ以上的频率,在电子数码产品,以及家电相关电器领域里面发挥优良的电气特性,满足无铅焊接的回流温度曲线要求.
贴片晶振晶片边缘处理技术：石英晶振是晶片通过滚筒倒边，主要是为了去除石英晶振晶片的边缘效应，在实际操作中机器运动方式设计、滚筒的曲率半径、滚筒的长短、使用的研磨砂的型号、多少、填充物种类及多少等各项设计必须合理，有一项不完善都会使晶振晶片的边缘效应不能去除，而石英晶振晶片的谐振电阻过大，用在电路中Q值过小，从而电路不能振动或振动了不稳定。陶瓷面封装晶振,32.768KHZ频点晶体,KX-327S晶振
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GEYER晶振 |
单位 |
KX-327S晶振 |
石英晶振基本条件 |
|
标准频率 |
f_nom |
32.768KHZ |
标准频率 |
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储存温度 |
T_stg |
-55°C~+125°C |
裸存 |
|
工作温度 |
T_use |
-20°C~+85°C |
标准温度 |
|
激励功率 |
DL |
50μW Max. |
推荐:100μW |
|
频率公差 |
f_— l |
±5,10,20× 10-6 |
+25°C 对于超出标准的规格说明, |
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频率温度特征 |
f_tem |
-0.034±0.006× 10-6/-30°C~+85°C |
超出标准的规格请联系我们. |
|
负载电容 |
CL |
6,12.5PF |
不同负载电容要求,请联系我们. |
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串联电阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C~+85°C, DL = 100μW |
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频率老化 |
f_age |
±3× 10-6/year Max. |
+25°C,第一年 |
这些晶振知识介绍是指，金属面晶振在产品上线之后发生不良品或者没反应的情况下，自检办法。石英晶振如果在电路上的功能不规则或根本无法全部晶振找出得到了应用操作，请使用以下的清单找出可能存在的问题。请按照确定的因素和可能的解决方案的说明。我们从晶振使用输出无信号开始寻找相关问题。GEYER晶振,贴片晶振,KX-327S晶振,石英进口晶振
我们可以先使用示波器或者频率计数器来检查石英晶体谐振器终端的两个信号，如果没有信号输出，请按照步骤1-1到1-4步执行检查。如果有从石英晶振（XOUT）的输出端子的输出信号，而是从在终端（辛）输出没有信号，请检查石英晶振体以下step1-5到步骤1-6。
你可以先把晶体卸载下来并测试石英进口晶振的频率和负载电容，看看他们是否能振动，也可以使用专业的石英晶体测试仪器来检测 。如果你没法检测你也可以将不良品发送给我公司，我们检测分析之后告诉你结果。如果有下列情况发生，晶振不起振，首先你先查看你产品上使用的负载电容CL是否对，是否跟你的线路相匹配，或者是晶振的精度是否符合你的要求，或者你可以把产品发送回我公司分析。如果晶振频率和负载电容跟要求相对应的话，我们将需要进行等效电路测试。比如等效电路测试如下：陶瓷面封装晶振,32.768KHZ频点晶体,KX-327S晶振
负载电容:如果振荡电路中负载电容的不同，可能导致进口石英贴片晶振振荡频率与设计频率之间产生偏差，如下图所示。电路中的负载电容的近似表达式 CL≒CG × CD / （CG+CD） + CS。其中CS表示电路的杂散电容。GEYER晶振,贴片晶振,KX-327S晶振,石英进口晶振
测试条件:(1)电源电压:超过 150µs，直到电压级别从 0 %达到 90 % 。电源电压阻抗低于电阻 2Ω。(2)其他:输入电容低于 15 pF5倍频率范围或更多测量频率。铅探头应尽可能短。测量8038贴片晶振频率时，探头阻抗将高于 1MΩ。当波形经过振荡器的放大器时，可同时进行测量。(3)其他:CL包含探头电容。应使用带有小的内部阻抗的电表。使用微型插槽，以观察波形。（请勿使用该探头的长接地线）.
振荡频率测量:必须尽可能地测量安装在32.768K低频石英晶振电路上的的振荡频率的真实值，使用正确的方法。在振荡频率的测量中，通常使用探头和频率计数器。然而,我们的目标是通过限制测量工具对振荡电路本身的影响来测量。有三种频率测量模式，如下面的图所示（图）。2, 3和4）。最精确的测量方法是通过使用任何能够精确测量的频谱分析仪来实现的。
接触振荡电路:探针不影响图2，因为缓冲器的输出是通过32.768K音叉型晶体输入振荡电路的输出来测量的。逆变器进入下一阶段。探针不影响图3，因为在IC上测量缓冲器输出（1/1、1/2等）。图4示出了来自ic的无缓冲器输出接收的情况，由此通过小尺寸测量来最小化探针的效果。输出点之间的电容（3 pF以下XTAL终端IC）和探针。然而，应该注意到，使用这种方法输出波形较小，测量不能依赖于即使示波器能检查振荡波形，频率计数器的灵敏度也可以。在这种情况下，使用放大器来测量。陶瓷面封装晶振,32.768KHZ频点晶体,KX-327S晶振
公司名：深圳市金洛鑫电子有限公司
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JLX-PD
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